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              基于AFM的納米刻蝕加工技術
              發布日期:2010/4/12 8:56:49
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                           原子力顯微鏡(AFM)技術的原理是基于微探針與樣品表面之間的原子力作用效應,這種作用不受樣品導電性的限制,因此,AFM可廣泛應用于導體、半導體和絕緣體樣品的納米檢測及納米計量;另一方面,基于AFM的微探針與樣品表面之間的原子力加載作用,可對樣品表面進行納米刻蝕,通過控制加載力的大小和微探針的掃描路徑,加工制備出不同線寬、不同深度、不同形狀的微納米結構。

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