通遼科技大市場暨內蒙古東部常設技術市場

設備名稱：高分辨透射電子顯微鏡 

儀器型號：JEM-2100 

所屬單位：西安交通大學-金屬材料強度國家重點實驗室 

設備原值：677 萬元 

制造廠商：日本電子 

生產國別：日本 

當前狀態：對外服務 

儀器設備詳細指標 

主要技術指標 加速電壓200KV，高分辨極靴，樣品傾斜角度，X方向±25°，Y方向±30°. 點分辨率為0.23nm，晶格分辨率為0.1nm，電子槍亮度≥4×108A/(cm2.sr)； TEM模式下，束斑尺寸為Φ2～Φ5nm，放大倍數2，000×～1，500，000×，EDS/NBD/CBD模式下，束斑尺寸為Φ0.5～Φ2.4nm； STEM模式下，晶格圖象的分辨率為0.2nm； EDS的接受角度為0.13sr，逸出角度為25°。  

功能/應用范圍 對材料的晶體結構、組織形貌進行常規的TEM分析外，主要用于高分辨電子顯微學研究。研究的對象可以是周期性的晶體結構，也可以是準晶，非晶、位錯、層錯等晶體缺陷，以及晶界、相界、疇界、表面等界面。  

服務領域  農/林/牧/漁  輕工/紡織  石油/石化  食品/煙草  地質/礦產  礦業/冶金  鋼鐵/有色金屬  水文氣象  非金屬/珠寶  橡膠/塑料(材料)  通信/郵政  機械制造  醫療/衛生  生物/醫藥  地質勘探  電氣工程  儀器/儀表  航空/航天  電子/信息技術  交通/運輸(公路/鐵路)  環保/水利/氣象/天文  其它   

技術特色 詳細收費標準： TEM400元/時；EDS在TEM收費基礎上額外收費；點分析每點加60元，線分析或面分析每條線或每個面加200元。   

服務情況及收費標準 

對外服務(平均機時/年)   

收費標準（元/樣品）   

聯系方式 

聯系人 郭生武  

聯系電話 029-82668547  

傳真 13096960866  

電子郵件 gsw@mail.xjtu.edu.cn